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半導體SOP封裝視覺檢測方案

半導體SOP封裝視覺檢測方案

本方案為山東博圖光電依托海康視覺核心技術,針對5×6mm小型SOP封裝半導體芯片打造的一體化高精度視覺檢測方案。采用軌道+載帶雙工位架構,一站式完成管腳精密測量與字符缺陷檢測,兼顧量產(chǎn)效率與微米級檢測精度,適配半導體封裝后段全檢量產(chǎn)需求,可有效管控產(chǎn)品品質、降低不良流出風險。

 

一、需求描述:

1、PCB板尺寸:5*6mm左右;

2、軌道工位主要實現(xiàn)管腳測量,其次實現(xiàn)字符檢測,載帶工位主要實現(xiàn)字符檢測,其次實現(xiàn)管腳測量;

3、字符檢測包括能檢測混雜、傾斜、對比度、缺少、子模缺損等項目;

4、管腳測量包括長度/寬度/間距/共線度/站立度/共面度等內(nèi)容;

 

二、技術要求:

1、識別精度<0.0144mm/pixel,理想識別率>99.5%;

2、PIN腳測量動態(tài)GRR<10%;

3、字符OCV初檢誤判率小于0.05%。

 11.png

三、方案優(yōu)勢:

1、高效檢測:實現(xiàn)字符檢測、管腳測量為一體的高效率解決方案

2、方案靈活:多種光源靈活組合,成像效果好

3、準確識別:識別精度高,誤檢率低

 22.jpg

四、方案架構:

半導體SOP封裝檢測系統(tǒng)采用雙工位采集圖像,工位一為軌道工位、工位二為載帶工位,分別配置一個130萬像素工業(yè)相機,分別配備焦距50mm、25mm的鏡頭、工位一采用包含偏振片的高亮環(huán)形光源及面光源組成的組合光源,工位二采用兩個紅色環(huán)形光源,安裝在固定支架上。

審核編輯(
王靜
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