從一枚透鏡的曲率，到一件吸盤的平面

從一處微米的缺陷

到一整個部件的全域數據——

超高精密零部件的每一次性能躍升

都藏在更精密的幾何與表面之中

2026長春國際光電博覽會

蔡司工業質量解決方案邀您共赴

一場“光學+精密”的深度融合

展會速覽

長春國際會展中心 A1館

蔡司展位：A1-B17

2026年6月12日至14日

光學透鏡曲率趨勢檢測

高精度、不磨損

光學透鏡是量測與DUV設備的關鍵零部件

曲率是否跑偏？粗磨是否整體變形？

ZEISS PRISMO 超高精度坐標測量機

搭載DotScan白光共聚焦測頭

不損傷透鏡表面，真實反映法線方向偏差

讓曲率趨勢，清晰可循

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真空吸盤全尺寸測量

高精度，高效率

真空吸盤是刻蝕與薄膜沉積的關鍵承載部件

微米級公差，多層結構

全尺寸如何快速管控？

ZEISS O-INSPECT 大型復合式測量機

集成接觸式、影像與白光共聚焦測頭

不損傷陶瓷表面，全尺寸精準捕獲。

效率提升，一機多測頭，轉臺自由旋轉——

讓質量，全數掌控

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微米級缺陷觀察與測量

高倍率、一鍵成

工件表面復雜不平整

常規顯微鏡難以觀察

ZEISS Smartzoom 5數碼顯微鏡

大景深3D成像，復雜結構也能清晰觀察

全電動控制，觸摸屏操作

一鍵生成報告，簡單便捷

讓缺陷，無所遁形

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石英/硅類部件全域光學檢測

全域掃描，反哺工藝

聚焦環、石英坩堝等耗材

全域色差、表面裂紋

傳統測量無法有效反哺工藝

ZEISS ScanPort + ATOS Q

半自動化光學掃描，全域三維數據捕獲

從“點測量”升級為“完整三維數據”

讓工藝，有據可循

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6月，我們相約長春

在光博會的展臺上

蔡司邀您一同探尋

那些透鏡之內、吸盤之上的精密邊界