歐姆龍成功事例 | EFEM設(shè)備中的上料判斷方案
應(yīng)用介紹
【行業(yè)】半導(dǎo)體
【設(shè)備】AMHS

應(yīng)用場(chǎng)景
上料時(shí)的wafer有無(wú)判斷,映射出wafer位置后方便后續(xù)機(jī)械手的抓取。

解決課題
1、由于設(shè)備內(nèi)部安裝空間緊湊且機(jī)械手的承載能力有限,檢測(cè)模塊需要直接內(nèi)嵌安裝于Loadport的開(kāi)門(mén)執(zhí)行機(jī)構(gòu)或晶圓搬運(yùn)機(jī)械手的本體結(jié)構(gòu)中。
2、需要平等檢測(cè)不同材質(zhì)的晶圓,避免因材料特性差異導(dǎo)致的誤檢或漏檢。
價(jià)值提案
核心產(chǎn)品:光纖單元 E32、光纖放大器 E3NX-FA
■E32采用耐折彎結(jié)構(gòu)制造,至少100W次的彎曲壽命,非常適合mapping往復(fù)運(yùn)動(dòng)的檢測(cè)方式,防止長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行時(shí)的機(jī)械壽命發(fā)生斷線。
■E32備有3mm和4mm厚等各種安裝方式,易于設(shè)置在loadport開(kāi)盒機(jī)構(gòu)或者晶圓機(jī)械手臂上的薄型形狀,光軸的調(diào)整也非常簡(jiǎn)單(光纖頭光軸與定位基準(zhǔn)面的偏差僅為±0.1°Typ)。
■使用放大器S-TUNE智能調(diào)諧,快速設(shè)定光量和閾值,盡量減小對(duì)射光纖安裝時(shí)的對(duì)齊誤差,并且在具有透明度上的wafer也可以做到快速設(shè)定。

相關(guān)產(chǎn)品
光纖單元 E32

光纖放大器 E3NX-FA

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