馬波斯新推出先進的Horizon 干涉測量控制器，在半導體、3C（計算機，通信，電子消費）等其它需要納米級高精度測量的行業，這款光譜控制器無疑都是其理想的選擇。

Horizon的工作原理為干涉測量，分辨率高達納米級，不僅重復精度高，而且長期測量穩定性高。非接觸干涉測量，可以最大限度減少熱漂移和磨損，充分滿足晶圓檢測和平面度測量、光刻掩模找正以及微電子器件檢測的應用要求。

Horizon產品線柔性高，工作的波長范圍大并支持多種傳感器，在不同材質、表面狀況和環境限制條件下都可測量。也允許使用多個傳感器，可根據應用要求定制配置，同時保持理想的測量穩定性。

Horizon可充分滿足高科技行業對嚴苛精密度和可靠性質量標準的要求。精密加工需要納米級高分辨率，為此需要可靠的結構，以確保檢測方案可在測試和生產環境中平穩運行。而且充分滿足工業計量要求，可進行尺寸的線下和線上控制。

Horizon設有多種協議的模擬和數字輸入輸出接口，可以無縫集成工業自動化系統，通過現場總線和高速通信接口實時傳輸數據，保持多編碼器同步，全動態測量。主/從式的網絡結構可在多點測量應用中保持測量的同步。

Horizon可運行豐富的軟件套件，進一步提升使用體驗，例如MIC Tool高級參數配置軟件支持大量不同材質和幾何特征，SDK Tool軟件可集成OEM測量和自動化系統，而馬波斯Windows?版Quick SPC?軟件可進行全功能的統計過程控制并提供應用行業所專用的插件。

Horizon控制器旨在滿足高精度應用的嚴苛要求，實現生產過程的嚴格控制、有效降低廢品率和確保產品質量。該產品是半導體生產制程的理想選擇，包括晶圓找正、蝕刻深度的測量和缺陷檢測等，也是3C行業結構完整性分析和組件檢測的理想選擇。

隨著Horizon光譜控制器的上市，馬波斯得以為市場提供了行業領先的解決方案，該解決方案結合了精度、速度和穩健性，可滿足新一代制造業最苛刻的要求。