檢測背景：

微型揚聲器振膜是目前消費電子領域用量最大的聲學核心元件之一。這些微型揚聲器振膜任何表面缺陷都會對成品造成嚴重影響如：

異物：振動時與振膜碰撞產生明顯的破音、雜音。

劃痕：破壞振膜表面的光滑度，導致高頻散射，高音變得刺耳。

凹凸缺陷：凹凸區域振動幅度與周圍不一致，產生明顯諧波失真。

圖片為AI生成↑

檢測需求：

檢測對象：微型揚聲器振膜

檢測類型：振膜表面各類缺陷

像素精度：0.02mm/pixel

檢測方案：

相機：面陣相機

鏡頭：FA鏡頭

光源：光度環形無影光源

方案說明：

高分辨率面陣相機，搭配FA工業鏡頭，垂直安裝在振膜正上方。光度環形無影光源，在鏡頭下方，光源的不同分區依次高速點亮，相機同步拍攝，捕獲4幅不同光照方向下的圖像，然后傳給算法處理。

（成像示意圖）

針對振膜凹凸類缺陷，光度立體相對高度圖可過濾表面紋理、反光與色差干擾，樣品的三維形貌可視化：凹陷呈黑色，凸起呈白色，缺陷邊界清晰，無漏檢誤判。

針對劃痕、臟污、異物三類缺陷，光度立體相對灰度融合圖，通過算法計算出灰度閾值來區分缺陷類型：淺劃痕與表面臟污呈現深色，凸起異物及深劃痕呈現白色。

該檢測方案以光度立體技術為核心，實現了振膜表面三維形貌與二維缺陷的同步精準識別。成像清晰，缺陷分類明確，為微型揚聲器振膜的質量控制提供了可靠的技術保障。